Analyser et améliorer la CEM avec simulation et mesures
Identifier et résoudre les problèmes de compatibilité électromagnétique dans vos dispositifs électroniques à l'aide de simulations et de mesures
Dans cette formation, vous apprendrez à utiliser efficacement la simulation et les mesures expérimentales de manière complémentaire pour obtenir la certification de vos appareils électriques. Cette formation est proposée sous la forme d'un cours de 3 jour(s).
Durée
3 jours
Prérequis
Aucun
Logiciel utilisé
Ansys SIwave, Ansys EMC Plus
- Identifier et améliorer les points critiques de la CEM
- Processus de développement ciblé par la compréhension des règles de conception CEM
- Comprendre la complémentarité entre simulation et mesures
- Convient aux débutants : aucune connaissance en simulation n'est nécessaire
Description
Tout appareil contenant des composants électroniques doit être soumis à une mesure de compatibilité électromagnétique (CEM) dans un centre d'essai certifié avant de pouvoir être mis sur le marché et utilisé. L'appareil est mesuré dans toute sa complexité, qui consiste généralement en plusieurs cartes, câbles et boîtiers, qui influencent tous les émissions parasites mesurées. Il est donc important de les éviter en utilisant une conception conforme aux normes en vigueur et, dans le pire des cas, en trouvant et en éliminant rapidement la source d'interférence grâce à une approche habile. Cette formation vous permettra de comprendre les causes typiques des problèmes de CEM à l'aide d'exemples pratiques et vous fournira le savoir-faire nécessaire pour aborder de manière ciblée le thème de la CEM dans le développement de vos appareils à l'aide d'essais virtuels et réels. Vous apprendrez des approches que vous pouvez déjà utiliser pendant le développement et ainsi garantir la réussite du premier test CEM sans cycles de conception supplémentaires.
Cette formation s'adresse aux développeurs de matériel pour tout type d'électronique à toutes les phases de la conception, des concepteurs de circuits imprimés aux ingénieurs d'essai qui souhaitent garantir la mesure de certification finale grâce à des mesures préalables. Aucune connaissance préalable n’est nécessaire.
Agenda détaillé de cette formation de 3 jours
Jour 1
01 Mesure et simulation CEM
- Bref aperçu des normes CEM : Qu'est-ce qui est mesuré ? Quelle valeur limite doit être respectée ?
- Regroupement des interférences
- Potentiel de la simulation dans le domaine de la CEM : quel outil pour quelle question ?
- Le passage de la simulation à la mesure
- Atelier : Identifier l'effet des problèmes typiques de CEM dans la simulation et la mesure
02 Compréhension physique
- Mécanismes de couplage électromagnétique
- La CEM et l'IEM (interférence électromagnétique) sont-elles liées ?
- Identifier les structures d'antennes indésirables
- Atelier : Réception d'un signal avec une antenne non désirée
03 Identification des sources d'interférence sur les PCB
- Vérification rapide dans Ansys SIwave : Intégrité du signal (SI)
- Quick-check dans Ansys SIwave : Intégrité de l'alimentation (PI)
- Corrélation SI/PI avec CEM : plusieurs façons d'identifier un problème CEM
- Atelier : Nous visualisons un champ électrique autour d'un PCB
04 Règles de conception CEM pour le circuit imprimé
- Disposition correcte des traces
- Tenir compte du courant de retour !
- Mesures de dépannage : Utilisation intelligente de vias, des condensateurs de découplage etc...
- Atelier : Démonstration de l'effet du courant de retour
Jour 2
05 Du PCB à la périphérie
- Comment traiter les câbles et les boîtiers lors de l'analyse au niveau de la carte de circuit imprimé ?
- Minimiser activement les émissions
- Utilisation intelligente de la prévention passive des émissions (par exemple, les noyaux de ferrite)
- Atelier : Liaison entre Ansys SIwave et d'autres outils de simulation
06 Influence du boîtier sur la CEM
- Blindage par un boîtier
- Résonance électromagnétique dans un boîtier
- Le boîtier comme emetteur parasite
- Atelier : Analyse de l’écrantage du boîtier avec Ansys EMC Plus
07 CEM pour les faisceaux de câbles
- Le câble comme antenne
- Conseils pour un câblage compatible avec la CEM
- Simulation d'un faisceau de câbles avec Ansys EMC Plus
- Atelier : Simulation et mesure de l'influence des câbles
08 Analyse CEM du système global
- Meilleures pratiques pour une analyse systématique des défaillances
- Expérience acquise : Détermination de la source du problème à partir des résultats des mesures CEM
- Visite virtuelle du laboratoire : Appareils de mesure et leurs équivalents en simulation
Jour 3
09 Visite du laboratoire EMC
- Appareils de mesure : À quoi sert tel ou tel appareil de mesure ?
- Manipulation correcte des instruments de mesure
- Atelier : Mise en place d'une mesure CEM selon une norme CISPR
10 Effectuer une mesure CEM selon une norme CISPR
- Atelier : Mesure en direct d'un circuit imprimé avec et sans défauts
- Interprétation correcte des résultats de mesure
- Corrélation avec les résultats de la simulation
11 Le meilleur des deux mondes : simulation et expérimentation
- Différence entre la simulation des composants et la mesure du dispositif complet
- Limites de la simulation, limites de la mesure
- Bonnes pratiques : Sources d'erreurs fréquentes dans la conception et la mesure CEM
- Atelier : Mesure d'une source d'interférence externe
12 Élimination des problèmes de CEM dans l'ensemble du système
- Aperçu des méthodes de mesure
- Contre-mesures pour l'élimination des erreurs dans le système global
- Dernier recours : Amortissement des émissions parasites
- Atelier : Mesure avec et sans amortissement
Formateurs
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